Karakterisasi Lanjut Focused Ion Beam (FIB) (Preparasi Sampel TEM) Sampel Logam/Alloy

Karakterisasi Lanjut Focused Ion Beam (FIB) (Preparasi Sampel TEM) Sampel Logam/Alloy
Karakterisasi Lanjut Focused Ion Beam (FIB) (Preparasi Sampel TEM) Sampel Logam/Alloy
Layanan Kontraktual

DESKRIPSI LAYANAN | Equipment  : Multi Detector of Foccused Ion Beam (FIB) Brand         : JEOL JIB 4610F Function     : The JIB-4610F…

  • Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
  • Puspiptek - Serpong
  • Satuan Layanan: Per Kontrak
  • Waktu Pengerjaan Layanan: 21 Hari Kerja
  • Kuota Pelayanan Per Hari: 1
  • Kapasitas Layanan: 1 Per Kontrak